受託分析

ENTRUST受託分析

マウンテックは粉体分析のプロフェッショナルとして

単発の測定から定期的な測定まで分析業務を支えます。

「１検体」から短納期で承ります。

分析項目

  • ・BET比表面積測定
  • ・画像解析式粒度分布測定
  • ・レーザー回折式粒度分布測定
  • ・走査型電子顕微鏡（SEM）撮影
  • ・水銀圧入式細孔分布測定
  • ・ガス置換法真密度測定

受託分析

粉体解析のプロフェッショナルとして、１種類の分析のみならず総合的な分析も承ります。

徹底した環境管理下の弊社分析センターにて受託分析業務を行っております。高機能・高付加価値粉体の評価に欠かせない「比表面積」「画像解析」「真密度」「粒度分布」などを検体数問わず承ります。ぜひ、お気軽にお問い合わせください。

測定機器/分析・評価項目を見る

BET比表面積測定

BET比表面積測定装置

Macsorb® HM-1200シリーズ（MOUNTECH）

  • 測定原理BET1点法/多点法
  • 測定範囲0.01～4000m2/g（サンプル特性による）
  • 対象試料粉体・成形体全般

画像解析式粒度分布測定

画像解析式粒度分布測定ソフトウェア

Macview・MacPIAS（MOUNTECH）

  • 解析項目面積・周囲長・長径・短径・最大長・最小長・Heywood径・周長円相当径・円形度係数・アスペクト比・Feret系・Martin系・Krummbein径・二軸平均径・二軸幾何平均径・二軸調和平均径/面積比/重心間距離分散度
  • 対象試料JpegやBitmap等の画像もしくは写真全般

レーザー回折式粒度分布測定

レーザー回折式粒度分布測定

Microtrac® MT3300EX (NIKKISO社)

  • 測定原理レーザー回折式
  • 測定範囲0.02～1.400μm（サンプル特性による） 湿式水溶媒
  • 対象試料粉体全般 (※水溶媒以外での測定についてはご相談下さい)

走査型電子顕微鏡(SEM)撮影

走査型電子顕微鏡

走査型電子顕微鏡 S-3400N (HITACHI社)

  • 最大分解能5nm (高真空、サンプル特性による)
  • 観察可能倍率×5～×300.000
  • 最大試料寸法200mm×80mm
  • 対象試料粉体・成形品全般

水銀圧入式細孔分布測定

水銀圧入式細孔分布測定

Pascal140、Pascal240 (Thermo社)

  • 測定原理水銀圧入法
  • 測定範囲細孔半径450～0.0018μm (サンプル特性による)
  • 最大圧力200MPa
  • 対象試料粉体・成形品全般

ガス置換法真密度測定

ガス置換法真密度測定

真密度測定装置 Macpycno® (MOUNTECH)

  • 測定原理ガス置換法
  • チャンバー容量20～60cc
  • 対象試料粉体・成形品全般

分析デモンストレーション

受託分析の立ち合い測定のみならず、弊社製品購入検討のお客様向けに、分析センターにてデモンストレーションも行っております。
ご用命の際は、下記連絡先へお問い合わせください。


【東京本社】
TEL：03-3226-1251　E-mail：info@mountech.co,jp

受託分析の流れ

メール・FAX・TELによるお問い合わせ

見積の提出

受付

分析・測定実施

測定結果報告書送付

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