Mountech 製品情報

画像解析式粒度分布ソフトウェア Mac-View Ver.4 粒子 自動計測 粉体解析専用ソフト

Mac-Viewの概要

研究開発や品質管理に不可欠なSEMやTEMなどの顕微鏡写真。写し出された粒子群の画像から粒径や形状係数をデータ化し解析することの必要性が年々高まっています。 画像解析式粒度分布測定ソフトウェア"Mac-View"は、「粉体の解析と管理」に特化し、真に実用性のある機能と使い易さを追求した粉体専用画像解析ツールです。ユーザーの皆様からのご要望をフィードバックし、Ver.4としてより使いやすく、より高機能にパワーアップして新登場いたします!

Mac-Viewの特徴

電子顕微鏡写真から粒子の画像を取り込み。各種データを計測・解析

スキャナや画像データから粒子写真を取り込み、写真のスケールを使用して解析するため、どんな画像でも計測可能。 測定レンジに上限/下限はありません。画像データファイルからの読込のほか、スキャナを使用して写真を直接取り込むことも可能。 非常にリーズナブルなコストで高度な解析環境を実現します。

全自動/半自動/手動認識ツールを組み合せ、あらゆる粒子の計測・解析を実現

条件を詳細に指定して粒子の自動認識が可能です。取り込み履歴や測定条件設定の保存・呼出にも対応し、 再計測や同じ手順で撮影された画像の解析がスムーズに行えます。バッチ処理機能も搭載しているため、 粒子自動認識時の一連の手順を登録してスピーディーな処理も実現。 また、Mac-View の特徴でもある半自動の簡単ツールや手動認識ツールも機能・ 使い勝手ともに大幅にパワーアップ。 旧バージョンでは認識の難しかった画像への対応やご要望の高かった長さ/距離の計測機能を搭載。 さらに、各ツールはオペレータが快適に使用できるようチューンアップされています。オプションとして、 モニタ画面の上を専用ペンで直接トレースすることが可能な液晶ペンタブレットもご用意しておりますので、 あらゆる粒子を簡単に認識できます。

取り込んだ粒子群データを、粒度分布データとして出力可能

粒子を認識したら、瞬時に粒度分布を表示。光学式の粒度分布計ではわからない様々な形状データをグラフィカルに解析することが可能です。各種粒子径だけでなく、アスペクト比、円形度係数、面積、周囲長をはじめとする個々の粒子データ、粒度分布の体積・面積・個数・長さ変換、 ON/PASS、ピークデータ、データ合成、形状係数解析等、多彩な解析(※)が行えます。

計測したデータを一括保存/呼出。テキストデータやグラフ/画像データの出力機能搭載

画像データを含め、すべてのデータは一括してファイルに保存されます。複数のデータファイルがハードディスク内の別々な場所に保存されていても、 データファイル検索機能を搭載しているため、指定したフォルダ・ドライブ内の全データを検索して呼出が行えます。 測定結果のレポート出力はもちろん、テキスト形式や画像データの出力も搭載。 条件を詳細に指定してファイル/クリップボードに出力できるので、別アプリケーションへの転用もスムーズに行えます。

弊社製「Mac-PIAS」との併用でレーザー回折式をはじめ他機種データとの比較等が可能

あらゆる粒度分布データを一括して管理・解析可能な粉体解析統合ソフトウェア、 "Mac-PIAS" と組み合わせることで、他機種データとの比較・解析・管理までをトータルにサポート。煩わしいデータの管理も簡単に行えます。

※ご購入いただくライセンスにより搭載される機能は変わることがあります。

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